試験と計測における精度と性能の新基準

KeithleyのMP5000シリーズは、最新の自動試験環境向けに設計されたモジュール式の高密度ソースプラットフォームです。最先端のSMUモジュールとPSUモジュール、シームレスな拡張性、直感的な自動化ツールにより、エンジニアはパフォーマンス、柔軟性、効率性の限界を押し広げることができます。

このトップクラスの自動試験装置(ATE)は、複数のソースメジャーユニット(SMU)と電源ユニット(PSU)を柔軟なモジュール構成で組み込むことで、ラックスペースを最適化します。3つのスロットとデュアルチャネルモジュールを備え、最大6チャネルの並列試験が可能です。さらにチャネル数の多い構成が必要な場合は、TSP-Link™を使用して本体フレームをマスター/サブ構成で接続し、1つのシステムとして動作させることができます。これにより、設計検証やデバッグから、ATEで使用される複雑な並列テストシステムまで、幅広い用途に最適なソースおよび計測システムを構築できます。

Tektronix MP5000

技術概要

MP5000シリーズの特長

Tektronix MP5000
  • ラックスペースを最大活用 - 設置面積とコストを削減 - 本体フレームにラックマウント設置で、最小限のスペースに配置

  • システムダウンタイムを最小化 - モジュールを迅速かつ容易に取り外して交換し、セットアップを迅速に
  • 柔軟性とパフォーマンスを最大化 - コストと性能用件に合わせて、1台の本体フレームでPSUとSMUの組み合わせ
  • 自動化と試験時間を短縮 - 付属のドライバとサンプルプログラムを使用して、Pythonなどの共通ソフトウェアを活用 - TSP(テストスクリプト処理)の強力な機能を活用して試験時間を短縮 - 厳密な同期を保ちながら多チャンネル並列試験を実装

機能と特長

本体フレーム

SMUの機能と特長

2600bシリーズのさらに進化したSMU

PSUの機能と特長

バイポーラ50W電源

MP5000シリーズについて

Tektronix MP5000シリーズ - 本体フレーム

MP5000本体フレーム

• 自動試験装置(ATE)用途向けの3スロット薄型設計 • SMUモジュールとPSUモジュールの混在構成に対応 • TSP-Linkを使用して本体フレームに接続し、より多くのチャネルへ拡張可能

Tektronix MP5000シリーズ - ソース計測と電源モジュール

SMUおよびPSUモジュール

• Keithleyの最新SMU設計で、2600シリーズSMUと比べてアナログ性能を改善 • モジュラー形状により、SMUの実装密度を4倍に向上 • 便利な機能を備えた新しい世代の電源ユニット

Tektronix MP5000シリーズ - テストの自動化

テストの自動化

• 組込みのWebインターフェースを使用して、装置のセットアップとトラブルシューティング • PCベースのソフトウェアを使用したTSPスクリプトの開発 • ソフトウェアドライバを使用した自動化

アプリケーション

MP5000の対応分野

VCSELソリューション

Tektronix MP5000
  • MP5103 - 冷却スペースを必要としない1Uの本体フレーム設計で、より高密度かつ効率的なテストラックを構築可能 - 最小限のスペースで本体フレームにラックマウント配置

  • DMM7512 - 別のSMUチャネルの代わりにフォトダイオード電流を計測するオプション - モジュールを素早く簡単に取り外したり交換したりできるので、迅速にセットアップ可能
  • MSMU60-2 - 電流を供給し、電圧を計測 - SMUモジュールあたり2チャンネルで、2つのVCSEL、またはVCSELとフォトダイオードの組み合わせを計測可能 - 1つの本体フレームでPSUとSMUを混在させ、コストパフォーマンスのニーズに対応
  • TSP Toolkit - Pythonなどの他のプログラミング言語で使用するためのTSP自動化コードの開発とデバッグ - 厳密な同期を保ちながら、多チャンネル並列試験の実装

特徴

  • パルス電流スイープの狭いパルス幅(150 μs)
  • チャンネル間の500 nsの同期
  • メインフレームあたり6つのSMUチャンネルで、メインフレームあたり最大6つのVCSELまたは3つのVCSEL/フォトダイオードペアを並列に計測可能
  • チャネルあたり1 MSa/sの高速サンプリングA/Dを搭載
  • 外部のTSP対応計測機器をTSP-Linkで制御
  • デバッガやスクリプト生成ツールなどのTSPツールキット開発ツール

 

利点

  • 自己発熱の影響を排除し、デバイスを損傷から保護
  • 電流出力と電圧・電流計測間の高精度な同期を実現
  • 生産テストのスループット向上により、テストコストを削減
  • 過渡的な動作の可視化を改善し、より深い洞察を実現
  • DMM7512を使用してフォトダイオード電流を計測することで、同期の複雑さを増やすことなく計測コストを削減
  • Pythonなどのその他のソフトウェアツールで活用できるTSPスクリプトのソフトウェア開発時間を短縮
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